אפלייד מטיריאלס

מערכת Applied SEMVision G5 החדשה מפיקה תמונות אלקטרוניות של השבב בפיקסל בגודל של כננטומטר ואמורה לקצר את זמן בדיקת השבבים בכ-35% באמצעות אוטומציה מלאה של תהליך הזיהוי ושיפור משמעותי של איכות התמונה, מהירות הפקת התמונות ואיתור מדויק יותר של פגמים אמיתיים ● איתי רוזנפלד, נשיא ומנכ"ל אפלייד מטיריאלס ישראל: "המערכת החדשה תאפשר ליצרניות האלקטרוניקה המובילות לפתח את התהליכים המתקדמים ביותר ולהעבירם לייצור בדרך המהירה והיעילה ביותר. אנו גאים על כך שהטכנולוגיה פורצת הדרך היא פרי פיתוח וייצור ישראלי"

הטכנולוגיה בבסיס מערכת Aera3 מאפשרת סריקה באמצעות לייזר תחת תנאים אופטיים המדמים את אלה המתקיימים במכונת הליתוגרפיה להדפסת השבבים ● היא מפיקה "תמונה אווירית" המדמה את מה שפרוסת הסיליקון "רואה" דרך המסכה, ובאמצעות זאת חוזה אילו פגמים יודפסו על פרוסת הסיליקון וישפיעו על פעולת השבב ומסננת את אלה שלא